产品简介

3321 型空气动力学粒径谱仪

产品描述

3321 空气动力学粒径谱仪(APS™)提供0.5至20微米粒径范围粒子的高分辨率、实时空气动力学检测。这些独特的粒径分析仪还检测0.37 至20微米粒径范围粒子的光散射强度。APS粒径谱仪通过向同一粒子提供成对数据向有兴趣研究气溶胶组成的人士开辟了令人振奋的新途径。

APS粒径谱仪使用取得专利的双峰光学系统,具有无与伦比的粒径检测精度。它还包括新设计的喷嘴结构和改进的信号处理。因此,它具有更大的小粒径检测效率、提高的质量分布精确度并有效消除错误背景计数。

空气动力学粒径:APS 3321通过精密的飞行时间(TOF)技术可以实时测量粒子的空气动力学粒径,其粒径测量范围达到0.5-20μm。由于基于飞行时间的空气动力学粒径计数仅仅与粒形状相关,从而避免了折射系数和米散射的干扰,因此仪器对粒径的测量性能优于同类的光学散射仪器。此外,飞行时间测量粒径所具有的单调对应曲线确保了在整个粒径测量范围内的高分辨率。

光学散射强度:通过光学散射测量技术,APS 3321的测量粒径可以达到0.37-20μm。虽然光学散射强度并不总是颗粒物粒径的可靠表征参数,但它仍然是人们感兴趣的一项参数。APS 3321可以分别提供同一粒径的空气动力学粒径和光学散射强度这两项参数的数据,并单独存储。

主要特性

  • 双峰光学系统产生高精度检测
  • 测量0.37至20 µm粒子的光散射强度
  • 测量0.5至20 µm粒子的空气动力学粒径

技术指标

粒径范围 05-20µm(空气动力直径);0.37-20µm(光散射直径)
气动力学直径解析率 0.02µm(1µm),0.03µm(10µm)
分辨率 粒径分辨率:32通道/10倍粒径,总共52通道,非相关模式下1024位原始飞行时间数据(4ns/位);